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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
Loop 測試 自動搜尋 IC 編號功能 開機自我偵測診斷功能 過載保護功能 可量測之 IC 種類超過 1800 種
詳情介紹：
GUT-6000A數(shù)位IC測試器臺灣固緯 GWinstek
特性：
Loop 測試
自動搜尋 IC 編號功能
開機自我偵測診斷功能
過載保護功能
可量測之 IC 種類超過 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
大可測 Pin 數(shù) : 28 Pin
Loop 測試
自動搜尋 IC 編號功能
開機自我偵測診斷功能
過載保護功能
可量測之 IC 種類超過 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
大可測 Pin 數(shù) : 28 Pin
GUT-6000A數(shù)位IC測試器詳細介紹
|
規(guī) 格 | |
|
測試范圍 |
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
|
4000 及 4500 系列 CMOS | |
|
55 及 75 系列 TTL | |
|
量測種類 |
約 1800 種 |
|
測試電壓 |
5V DC |
|
測試時間 |
高測試速度，平均 0.8 秒可完成一個 IC |
|
使用電源 |
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
|
附件 |
電源線 x 1, 操作手冊 x 1 |
|
尺寸及重量 |
335(寬) x 105(高) x 300(長) mm, 約 1.5 公斤 |
固緯IC測試儀選型表
|
機 種 |
主要功能或用途 |
|
GUT - 6000A |
數(shù)位IC測試器 |
|
GUT - 6600 |
掌上型數(shù)位IC測試器 |
|
GUT - 6001 |
類比IC測試器 |
特性：
Loop 測試
自動搜尋 IC 編號功能
開機自我偵測診斷功能
過載保護功能
可量測之 IC 種類超過 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
大可測 Pin 數(shù) : 28 Pin
Loop 測試
自動搜尋 IC 編號功能
開機自我偵測診斷功能
過載保護功能
可量測之 IC 種類超過 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
大可測 Pin 數(shù) : 28 Pin
GUT-6000A數(shù)位IC測試器詳細介紹
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規(guī) 格 | |
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測試范圍 |
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
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4000 及 4500 系列 CMOS | |
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55 及 75 系列 TTL | |
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量測種類 |
約 1800 種 |
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測試電壓 |
5V DC |
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測試時間 |
高測試速度，平均 0.8 秒可完成一個 IC |
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使用電源 |
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
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附件 |
電源線 x 1, 操作手冊 x 1 |
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尺寸及重量 |
335(寬) x 105(高) x 300(長) mm, 約 1.5 公斤 |
固緯IC測試儀選型表
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機 種 |
主要功能或用途 |
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GUT - 6000A |
數(shù)位IC測試器 |
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GUT - 6600 |
掌上型數(shù)位IC測試器 |
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GUT - 6001 |
類比IC測試器 |
