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粗糙度術(shù)語及粗糙度(光潔度)對照表
本資料給出的參數(shù)符合GB/T 3505-2000《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 表面結(jié)構(gòu)的述語、定義及參數(shù)》、符合GB/T 6062-2002《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范 （GPS）表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 接觸（觸針）式儀器的標(biāo)稱特性》。
圖一：放大n倍后的工件截面/表面粗糙度及輪廓：
圖二：各種加工方法能得到的表面光度：
圖三：常見的表面粗糙度儀的工件測量：
(1)表面粗糙度： 取樣長度L
取樣長度是用于判斷和測量表面粗糙度時所規(guī)定的一段基準(zhǔn)線長度，它在輪廓總的走向上取樣。
(2)表面粗糙度： 評定長度Ln
由于加工表面有著不同程度的不均勻性，為了充分合理地反映某一表面的粗糙度特性，規(guī)定在評定時所必須的一段表面長度，它包括一個或數(shù)個取樣長度，稱為評定長度Ln。
(3)表面粗糙度： 輪廓中線（也有叫曲線平均線）M
輪廓中線M是評定表面粗糙度數(shù)值的基準(zhǔn)線。
評定參數(shù)及數(shù)值:
國家規(guī)定表面粗糙度的參數(shù)由高度參數(shù)、間距參數(shù)和綜合參數(shù)組成。
表面粗糙度高度參數(shù)共有三個:
(1)輪廓算術(shù)平均偏差Ra ：
在取樣長度L內(nèi)，輪廓偏距值的算術(shù)平均值。
(2)微觀不平度十點高度Rz
在取樣長度L內(nèi)大的輪廓峰高的平均值與五個大的輪廓谷深的平均值之和。
(3)輪廓大高度Ry
在取樣長度內(nèi)，輪廓峰頂線和輪廓谷底線之間的距離。
表面粗糙度間距參數(shù)共有兩個：
(4)輪廓單峰平均間距S
兩相鄰輪廓單峰的點在中線上的投影長度Si，稱為輪廓單峰間距，在取樣長度L內(nèi)，輪廓單峰間距的平均值，就是輪廓單峰平均間距。
(5)輪廓微觀不平度的平均間距Sm
含有一個輪廓峰和相鄰輪廓谷的一段中線長度Smi，稱輪廓微觀不平間距。
表面粗糙度綜合參數(shù)：
(6)輪廓支承長度率tp
輪廓支承長度率就是輪廓支承長度np與取樣長度L之比。
另附：
|
中美表面粗糙度對照表 | |||
|
中國舊標(biāo)準(zhǔn) ( 光潔度 ) |
中國新標(biāo)準(zhǔn) ( 粗糙度 )Ra |
美國標(biāo)準(zhǔn) (微米 )Ra |
美國標(biāo)準(zhǔn)( 微英寸 )，Ra |
|
▽ 4 |
6.3 |
8.00 |
320 |
|
6.30 |
250 | ||
|
▽ 5 |
3.2 |
5.00 |
200 |
|
4.00 |
160 | ||
|
3.20 |
125 | ||
|
▽ 6 |
1.6 |
2.50 |
100 |
|
2.00 |
80 | ||
|
1.60 |
63 | ||
|
▽ 7 |
0.8 |
1.25 |
50 |
|
1.00 |
40 | ||
|
0.80 |
32 | ||
|
▽ 8 |
0.4 |
0.63 |
25 |
|
0.50 |
20 | ||
|
0.40 |
16 | ||
國內(nèi)表面光潔度與表面粗糙度Ｒａ、Ｒｚ數(shù)值換算表(單位：μｍ)
|
表面光潔度 |
▽1 |
▽2 |
▽3 |
▽4 |
▽5 |
▽6 |
▽7 | |
|
表面 |
Ｒａ |
50 |
25 |
12.5 |
6.3 |
3.2 |
1.60 |
0.80 |
|
Ｒｚ |
200 |
100 |
50 |
25 |
12.5 |
6.3 |
6.3 | |
|
表面光潔度 |
▽8 |
▽9 |
▽10 |
▽11 |
▽12 |
▽13 |
▽14 | |
|
表面 |
Ｒａ |
0.40 |
0.20 |
0.100 |
0.050 |
0.025 |
0.012 |
- |
|
Ｒｚ |
3.2 |
1.60 |
0.80 |
0.40 |
0.20 |
0.100 |
0.050 | |
另附：表面粗糙度標(biāo)準(zhǔn)加工方法
|
標(biāo)準(zhǔn)等級代號 |
表面粗糙度 |
加工工具(方法) |
加工材料及硬度要求 |
光度描述 | |||
|
粗研磨砂粒粒度 |
精研磨砂粒粒度 |
鉆石膏拋光 | |||||
|
SPI(A1) |
Ra0.005 |
|
|
|
S136 |
54HRC |
光潔度非常高,鏡面效果 |
|
8407 |
52HRC | ||||||
|
SPI(A2) |
Ra0.01 |
|
|
|
DF-2 |
58HRC |
光潔度較低,沒有砂紙紋 |
|
XW-10 |
60HRC | ||||||
|
SPI(A3) |
Ra0.02 |
|
|
|
S136 |
300HB |
光潔度更低**,但沒有砂紙紋 |
|
718SUPREME |
300HB | ||||||
|
SPI(B1) |
Ra0.05 |
|
|
|
|
|
沒有光亮度,有輕微3000#砂紙紋 |
|
|
| ||||||
|
SPI(B2) |
Ra0.1 |
|
|
|
|
|
沒有光亮度,有輕微2000#砂紙紋 |
|
|
| ||||||
|
SPI(B3) |
Ra0.2 |
|
|
|
|
|
沒有光亮度,有輕微1000#砂紙紋 不辨加工痕跡的方向 |
|
|
Ra0.4 |
精加工：精車＼精刨＼精銑＼磨＼鉸＼刮 |
|
|
微辨加工痕跡的方向 | ||
|
|
Ra0.8 |
精加工：精車＼精刨＼精銑＼磨＼鉸＼刮 |
|
|
可辨加工痕跡的方向 | ||
|
|
Ra1.6 |
|
|
|
| ||
|
|
Ra3.2 |
|
|
|
| ||
|
|
Ra6.3 |
|
|
|
| ||
|
|
Ra12.5 |
|
|
|
| ||
|
|
Ra25 |
|
|
|
| ||
|
|
Ra50 |
|
|
|
| ||
另附：
粗糙度儀新舊標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)變化對照表
現(xiàn)將粗糙度依據(jù)新標(biāo)準(zhǔn)更改參數(shù)的情況列表如下，如有問題，由時代公司負(fù)責(zé)解釋。本表還適用于公司TR1系列粗糙度儀。修改后可測量參數(shù)的總數(shù)沒有變化，仍為13個參數(shù)，只是顯示在不同的標(biāo)準(zhǔn)中,也就是說：時代粗糙度儀產(chǎn)品參數(shù)：涵蓋新舊標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)?。ㄔ斠姳恚?/span>
|
新標(biāo)準(zhǔn)(ISO) |
舊標(biāo)準(zhǔn)(ISO) |
說明 |
|
Ra |
Ra |
各標(biāo)準(zhǔn)通用參數(shù) |
|
|
Rz |
顯示在日本標(biāo)準(zhǔn)JIS中 |
|
Rz |
Ry |
參數(shù)定義已修改。原Ry仍顯示在日本標(biāo)準(zhǔn)JIS、德國標(biāo)準(zhǔn)DIN中。 |
|
Rq |
Rq |
沒變化 |
|
Rp |
Rp |
沒變化 |
|
Rv |
Rm |
符號改，參數(shù)定義沒改 |
|
Rt |
Rt |
沒變化 |
|
|
R3z |
顯示在日本標(biāo)準(zhǔn)JIS中，參數(shù)沒變化 |
|
|
Rmax |
顯示在德國標(biāo)準(zhǔn)DIN、美國標(biāo)準(zhǔn)ANSI中 |
|
RSk |
Sk |
符號改，定義沒改 |
|
RS |
S |
符號改，定義沒改 |
|
RSm |
Sm |
符號改，定義沒改 |
|
Rmr |
tp |
符號改，定義沒改 |
相關(guān)儀器：頻閃儀，超聲波測厚儀, 激光測距儀，色差儀，鐵素體檢測儀，超聲波探傷儀，推拉力計，附著力測試儀，測振儀,氣體分析儀
計量 相關(guān)儀器：硬度計，粗糙度儀，電子天平，超聲波測厚儀，電火花檢測儀，溫度計，推拉力計，磁粉探傷儀，紅外線測溫儀，超聲波探傷儀，瓶蓋扭力計，紫外線燈，可見光分光光度計
涂裝 相關(guān)儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，標(biāo)準(zhǔn)光源箱
建工 相關(guān)儀器：鋼筋探測儀，鋼筋掃描儀，混凝土保護(hù)層測厚儀，鋼筋銹蝕儀，工程雷達(dá)，非金屬超聲檢測儀，非金屬板/樓板測厚儀，回彈儀，裂縫寬度測試儀，混泥土強度測定儀，測樁儀，其他建工測試儀
