主營(yíng)產(chǎn)品：
紫外線燈、磁粉探傷黑光燈、鐵素體檢測(cè)儀、測(cè)鋁專用測(cè)溫儀、高溫耦合劑、超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、涂層測(cè)厚儀等儀器儀表，檢測(cè)設(shè)備類。
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
大測(cè)試引腳數(shù)40
詳情介紹：
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產(chǎn)品名稱 |
IC在線/離線數(shù)字測(cè)試系統(tǒng) YB3114 |
· · 大測(cè)試引腳數(shù)40
· 大測(cè)試速度500KHz/Pin
· 中文菜單，操作簡(jiǎn)單
用電電源 220V±10％
主要技術(shù)指標(biāo)
測(cè)試種類：常用TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU、及可編程器件等；被測(cè)芯片腳數(shù)：40腳以下；測(cè)試速度：500KHz/Pin；大輸出電流：每引腳100mA；測(cè)試方法：小規(guī)模集成電路（SST）、中規(guī)模集成電路（MSI），與標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)比較大規(guī)模集成電路（LSI），與自學(xué)習(xí)庫(kù)比較；提供自建測(cè)試的編程語(yǔ)言；提供專用電路板元件測(cè)試庫(kù)（由使用者提出）；顯示方式：圖形顯示（時(shí)序波形）、狀態(tài)顯示；V-I特征曲線測(cè)試；
