XDVM-P X-RAY測厚儀

FISCHERSCOPE® XDVM®-P是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。

它杰出的特性包括：2組可切換的各帶4個(gè)視準(zhǔn)器的視準(zhǔn)器組，大的開槽的測量箱體確保工件放置簡便，的可編程的直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)的X-Y工作臺(tái)快速和無振動(dòng)移動(dòng)以及原始射線從上往下設(shè)計(jì)為在Z-軸可移動(dòng)的X-射線發(fā)生和接受裝置。

這個(gè)特性使得該系統(tǒng)非常適合于測量大批量生產(chǎn)的部件，例如螺絲，連接器插針或大的線路板。按動(dòng)按鈕就可根據(jù)預(yù)設(shè)的測試點(diǎn)定位進(jìn)行自動(dòng)測量，并可自動(dòng)的進(jìn)行評(píng)估報(bào)告輸出。

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù)，FISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。

的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM® V.6軟件）

典型的應(yīng)用范圍如下：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。

雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。

分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-P instrument series

FISCHERSCOPE® X-RAY     Version with programmable XY stage and programmable X-Ray

XDVM®-P                  head Z-axis

                            XY stage travel : 250 mm x 250 mm

Dimensions

Measurement head            width = 660 mm; depth = 950 mm; height = 720 mm

Measurement chamber         width = 580 mm; depth = 560 mm; height = 145 mm